在線膜厚儀實例及性能評價

發(fā)布日期：2024-11-04      瀏覽次數(shù)：61

在線膜厚儀實例及性能評價




樣品和元素

沉積在薄膜上的 Cr、Ni 和 Cu 的膜厚分析

設備概覽

圖1所示為便攜式X射線熒光分析儀OURSTEX100FA。為了將測量頭連接到薄膜沉積設備（圖 3），將其修改為在線使用，如圖 2 所示。該測量頭內(nèi)部的檢測器部分和X射線管用水冷卻以散熱。


安裝設備



測量條件

• 設備：能量色散熒光X射線膜厚計

• X射線管目標：W

• X射線管輸出：40kV-0.25mA

• 檢測器：帕爾貼冷卻型（-10℃）SDD

• 測量氣氛：真空（10 -5 Pa）

• 分析線：Cu-Kα Ni-Kα Cr-Kα

• （散射輻射）（W-Lβ）

• 測量時間：100秒

• 輸膜速度：3.0m/min

校準曲線創(chuàng)建結果

通過ICP發(fā)射光譜法預先測定標準樣品的附著量(g/m2)，將計算值除以各元素的密度(g/cm3)并用于校準曲線。圖 4 顯示了測量的波形。

 

由于測量位置波動而進行的修正

樣品在運輸過程中，測量位置上下波動，這可能會導致定量誤差，因此我們使用瑞利散射輻射（在本例中為W-Lβ輻射）作為參考來校正位置波動。


如圖6所示，在2mm的位置變化內(nèi)，無論位置如何變化，該值幾乎保持恒定。

Cu層對Ni、Cr吸收效果的影響

如果最外層Cu層的厚度發(fā)生變化，其吸收效果也會發(fā)生變化，從而難以準確測量Ni層和Cr層的厚度。因此，根據(jù)銅層厚度預先計算出 Ni 和 Cr 的靈敏度校正曲線，如圖 7 所示。 （Cu層厚度為100nm時的強度比設為標準1.0。）


根據(jù)Cu層的厚度確定校正系數(shù)，并對Ni層和Cr層的厚度進行校正和量化。

檢測限

表2顯示了該裝置中Cr、Ni和Cu膜厚的檢測極限值（理論計算值）。



準確性

表3顯示了固定薄膜位置時測得的靜態(tài)精度和樣品輸送（3.0 m/min）時測得的動態(tài)精度。



概括

將新開發(fā)的熒光X射線膜厚計安裝在成膜裝置上進行性能評價后發(fā)現(xiàn)：

① 發(fā)現(xiàn)可以通過瑞利散射線計算 X 射線強度比來校正因輸送過程中薄膜位置波動而產(chǎn)生的誤差。
② Cu、Ni、Cr膜的檢測下限：Cu為1.5nm，Ni、Cr為1nm以下，實現(xiàn)了高靈敏度。
③ 靜態(tài)和動態(tài)精度的測量精度均為CV=5%以下，可高靈敏度地測量極薄的薄膜。

綜上所述，認為該膜厚計適用于極薄膜厚的在線測量。此外，據(jù)認為它不僅可以應用于膜厚測量，還可以應用于電鍍?nèi)芤旱姆治龅取?/span>

推薦裝備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX100FA"

非常適合在線、考古和文化財產(chǎn)樣品



　【特征】　●可進行非破壞性的快速成分分析。　●無需接觸即可分析大樣品和不規(guī)則形狀樣品。　●可以近距離分析彎曲樣品。　●結構緊湊、重量輕、便于攜帶，便于現(xiàn)場分析。　●可用100V電源進行分析，無需液氮或冷卻水。　[應用實例]　●考古調(diào)查分析　●取證分析　●廢舊材料的材質(zhì)測定